該Ardic儀器M150 MEMS分析儀是一款屢獲殊榮的儀器，可以分析MEMS器件的諧振頻率為1Hz至4.2MHz在60秒。用點和射擊3μm的激光光學系統，用戶可以快速地通過較寬的帶寬頻率掃描和實時傅立葉變換獲得的微結構的共振峰。通過使用非接觸式光學測量中，M150是一種非常有效的技術，用於測量諧振頻率，而不改變樣本性質。

該M150是MEMS的研究，開發和質量控制的關鍵手段。 大多數MEMS器件依靠微結構的機械共振來實現設計的應用程序。傳感器通常使用在共振頻率的變化的主要機制進行檢測。在所述MEMS裝置上的不同位置測量的共振頻率是一種有效的方法，用於確認原始MEMS設計被準確製造。MEMS設計和代工廠可以利用這些信息來診斷微觀分析故障或質量控制的力學行為。

愛德華僑，該公司的創始人兼首席執行官指出，“守我們公司的設計理念，該系統實現了以最少的設置和培訓精確和可重複的結果。我們花了大量的時間與最終用戶進行交互，並了解他們真正需要什麼，當談到MEMS的發展。我們體現這些需求到我們的設計和工程，導致功能，如自動校準光學系統，嵌入式小場和大場的CCD，以及一個內置的激勵源。我們的目標是設計出滿足大多數用戶無需昂貴的附加組件的工具。“該M150榮獲2013年iF產品設計獎的在用戶體驗和工程質量精益求精。 在M150已經過測試，在世界各地的實驗室，包括美國，德國，中國，新加坡，日本，台灣和使用。當時的響應是，該系統是容易得多比市場上的替代品使用。